工業硅粉在檢驗篩篩分試驗過程中的“篩不凈”問題
2009-5-9 來源：劉艷招-新鄉市高服篩分機械有限公司
物料名稱：工業硅粉
物料特性：顯微鏡下形狀呈不規則棱角分明硅晶體、易碎、與塑料有靜電反應
使用設備：A：200型標準檢驗篩 B：200型拍擊篩 C：超聲波檢驗篩
實驗物料：100克
配用篩格：20目、30目、40目、60目、80目
實驗記錄：
項目 | 使用設備 | 物料重量 | 試機時間 | 結果 |
A | 200型標準檢驗篩 | 100克 | 12分鐘 | 40-60目物料有5%左右殘余，物料有卡網現象 |
B | 200型拍擊篩 | 100克 | 10分鐘 | 40-60目物料有5-8%左右殘余，物料有卡網現象，拍擊作用下部分碎裂 |
C | 超聲波檢驗篩 | 100克 | 5分鐘 | 40-60目物料有5%左右殘余，物料有卡網現象 |
結論：
綜合以上實驗情況得出：
對于工業硅粉篩分，因為晶體的不規則性和易碎性，在檢驗過程中會有部分物料卡網、或者因不規則粒徑導致不容易透網。使用超聲波僅提高50%檢驗時間，但是造價太高，200目以粗物料檢測不建議采用。使用拍擊篩易造成部分硅晶體碎裂而影響檢測精度。因此*佳方案為200型標準檢驗篩試驗。檢驗篩透網率≥90%屬于正常范疇，對于多晶硅形狀不規則情況，可進行重復性或長時間檢測！
附圖：
一、40目物料顯微鏡下形態
二、60目物料顯微鏡下形狀
三、試驗物料100克
四、使用篩格
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