顆粒分析儀

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產品名稱: 顆粒分析儀
產品型號:
產品廠商: 其他品牌

簡單介紹

測量范圍： 0.15-400 微米.....

顆粒分析儀的詳細介紹

GSL-101B I激光顆粒分布測量儀

測量范圍：0.15-400 微米
采樣通道：82道
儀器靈敏度：12位（A/D CONVERT）
相對濕度：〈80%
電源電壓：220V±10% 50Hz,推薦使用穩壓電源（1KVA）對儀器供電
激光器類型：半導體
激光器功率：5mW
激光器波長: 760nm
激光器壽命：大于20000小時
測試時間：單次測試時間小于：60 秒
操作系統：中文 Windows95/98/ME/2000/NT/XP
驗收方法：按Q/AMR001-2002標準驗收.

測試對象：

1.各種非金屬粉：如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土等。
2.各種金屬粉：如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3.其它粉體：如催化劑、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、熒光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各種乳濁液等。

儀器特點：

● 重復性好
本儀器采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響,只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。而且區別于沉降法,由于不需要沉降過程，因此在一次測試中可以多次采樣(5-20次任意設定)，有效的濾除了由于電噪聲，樣品分布不均等因素造成的影響，使儀器的測試重復性變好。

● 測試范圍寬
由于采用了大尺寸光電探測陣列（70個通道）、側向輔助光電探測陣列（12個通道）及其它相應技術，使單透鏡測試范圍達到0.1---450微米；并且由于本儀器使用過程中無須更換鏡頭及調整光學系統，提高了系統的穩定性，簡化了操作過程。

● 采用半導體激光發生器
具有光參數穩定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優點，克服了傳統氣體激光器由于自然漏氣，需定期更換的缺點。

● 自動化程度高操作簡單
GSL-101BI型激光顆粒測量儀采用微機進行實時控制，自動完成數據采集、分析處理、結果保存、打印等功能,操作簡單,自動化程度高。

● 測試迅速
由于無須沉降過程，使測試速度大幅度提高，在通常情況下，1分鐘內即可完成一次樣品測試。(注:不包括樣品制備時間)。

● 軟件
本儀器測試程序采用MSVC/C++6.0編制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人機接口界面，操作直觀簡便,通俗易懂。數據輸出內容豐富,并且可以輸出英文測試報告,對于彩色打印機還可以輸出彩色測試報告。

● 采用了獨特的機械攪拌裝置
具有攪拌力矩大、速度快、攪拌均勻等一系列優點。

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